NF E60-172-5-1998 多工序数控加工中心的试验条件.第5部分:工件夹紧盘定位的精确度和可重复性
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【英文标准名称】:Testconditionsofmachiningcentres.Part5:accuracyandrepeatabilityofpositioningofwork-holdingpallets.
【原文标准名称】:多工序数控加工中心的试验条件.第5部分:工件夹紧盘定位的精确度和可重复性
【标准号】:NFE60-172-5-1998
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1998-09-01
【实施或试行日期】:1998-09-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机床;工件夹持装置;数值控制;组合加工中心机床;试验;验收试验;试验条件
【英文主题词】:Acceptancetests;Machinetools;Machiningcenters;Numericalcontrol;Testing;Testingconditions;Work-holdingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:J50
【国际标准分类号】:25_040_10
【页数】:13P;A4
【正文语种】:其他
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Micro-electromechanicaldevices-Part14:Forminglimitmeasuringmethodofmetallicfilmmaterials(IEC62047-14:2012);GermanversionEN62047-14:2012
【原文标准名称】:半导体装置.微电机装置.第14部分:金属薄膜材料的成型极限测量方法(IEC62047-14-2012).德文版本EN62047-14-2012
【标准号】:DINEN62047-14-2012
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2012-10-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;电气工程;形状变化;成型力;成形法;材料特性;材料;金属膜;金属的;微电子学;微系统工艺;性能;半导体器件;系统工程;试验;厚度;薄膜;薄膜工艺
【英文主题词】:Definitions;Electricalengineering;Formchanges;Formingforces;Formingmethod;Materialbehaviour;Materials;Metalfilms;Metallic;Microelectronics;Microsystemtechniques;Properties;Semiconductordevices;Systemengineering;Testing;Thickness;Thinfilms;Thin-filmtechnology
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_220_01
【页数】:20P;A4
【正文语种】:德语
基本信息
标准名称: | 铜及铜合金化学分析方法 第16部分:铬含量的测定 |
英文名称: | Methods for chemical analysis of copper and copper alloys—Part 15:Determination of cobalt content |
中标分类: |
冶金 >>
金属化学分析方法 >>
重金属极其合金分析方法 |
ICS分类: |
冶金 >>
有色金属 >>
铜和铜合金
|
替代情况: | 替代GB/T 13293.3-1991部分;GB/T 5121.16-1996 |
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: | 2008-06-17 |
实施日期: | 2008-12-01 |
首发日期: | 1996-11-04 |
作废日期: | |
主管部门: | 中国有色金属工业协会 |
提出单位: | 中国有色金属工业协会 |
归口单位: | 全国有色金属标准化技术委员会 |
起草单位: | 中铝洛阳铜业有限公司、北京矿冶研究总院、中国有色金属工业标准计量质量研究所 |
起草人: | 冯先进、杨素芝、冯渝清、高介平、孙淑媛、张皓、李雅民、刘霞 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2008-12-01 |
页数: | 8页 |
计划单号: | 20061462-T-610 |
适用范围
GB/T5121《铜及铜合金化学分析方法》共有27部分。本部分为第16部分。本部分代替GB/T5121.16—1996《铜及铜合金化学分析方法 铬量的测定》和GB/T13293.3—1991《高纯阴极铜化学分析方法 塞曼效应电热原子吸收光谱法测定铬、锰、镉量》。本方法规定了铜及铜合金中钴含量的测定方法。本方法适用于铜及铜合金中钴含量的测定。测定范围:0.000 10%~0.0020%。 本部分与GB/T13293.3—1991、GB/T5121.16—1996相比,主要变动如下:
———方法二是对GB/T5121.16—1996的修订,补充了质量保证和控制条款,增加了精密度条款;
———方法一是对GB/T13293.3—1991的修订,补充了质量保证和控制条款,增加了精密度条款;
———增加了方法三:等同采用国际标准ISO6437:1984《铜合金———铬量的测定———滴定法》。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 冶金 金属化学分析方法 重金属极其合金分析方法 冶金 有色金属 铜和铜合金